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2022年集成電路測(cè)試技術(shù)研討會(huì)

重要提示:會(huì)議信息包含但不限于舉辦時(shí)間,場(chǎng)地,出席人員等可能會(huì)隨著時(shí)間發(fā)生變化,報(bào)名參會(huì)或溝通合作請(qǐng)先聯(lián)系主辦方確認(rèn)。如果您發(fā)現(xiàn)會(huì)議信息不是最新版,可以通過主辦方郵箱將包含最新會(huì)議信息的鏈接或文件通過郵箱發(fā)送至support@huiyi-123.com,審核人員將會(huì)盡快為您更新到最新版本。
會(huì)議時(shí)間:2022-09-24 ~ 2022-09-26
舉辦場(chǎng)地:電子科技大學(xué)(深圳)高等研究院 導(dǎo)航
主辦單位:中國(guó)儀器儀表學(xué)會(huì) 更多會(huì)議
大會(huì)主席:領(lǐng)域?qū)<?/span>
會(huì)議介紹

集成電路產(chǎn)業(yè)作為電子信息產(chǎn)業(yè)的基礎(chǔ)和核心,是國(guó)民經(jīng)濟(jì)和國(guó)防的重要支柱與戰(zhàn)略性產(chǎn)業(yè)。無線通信、人工智能、汽車電子、新型傳感器、新型顯示驅(qū)動(dòng)著集成電路的設(shè)計(jì)水平不斷提升,同時(shí)對(duì)集成電路測(cè)試帶來更大的挑戰(zhàn)。近年來,可測(cè)性設(shè)計(jì)、大規(guī)模SOC設(shè)計(jì)以及2.5D、3D封裝等技術(shù)的飛速發(fā)展,對(duì)測(cè)試開發(fā)技術(shù)以及ATE技術(shù)水平都提出了更高的要求,國(guó)外研究機(jī)構(gòu)和以美國(guó)泰瑞達(dá)、日本愛德萬等為代表的廠家在測(cè)試技術(shù)研究、人才培養(yǎng)和測(cè)試設(shè)備研制等方面都取得了較大的進(jìn)展。

我國(guó)集成電路測(cè)試技術(shù)發(fā)展相比國(guó)外起步較晚,并且面臨國(guó)外高端技術(shù)壟斷的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。國(guó)內(nèi)集成電路測(cè)試技術(shù)的發(fā)展以及測(cè)試設(shè)備嚴(yán)重依賴國(guó)外公司,測(cè)試人才的培養(yǎng)也處于起步階段,自主編寫的教材和專業(yè)課程建設(shè)嚴(yán)重滯后,不能適應(yīng)國(guó)內(nèi)產(chǎn)業(yè)發(fā)展的需求。為加強(qiáng)集成電路測(cè)試技術(shù)的研究,培育國(guó)內(nèi)集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè),中國(guó)儀器儀表學(xué)會(huì)電子測(cè)量與儀器分會(huì)和中國(guó)電子學(xué)會(huì)電子測(cè)量與儀器分會(huì)聯(lián)合主辦第一屆集成電路測(cè)試技術(shù)研討會(huì),會(huì)議針對(duì)集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)發(fā)展、相關(guān)技術(shù)研究和人才培養(yǎng)等展開研討和交流,旨在促進(jìn)國(guó)內(nèi)集成電路測(cè)試行業(yè)技術(shù)進(jìn)步,此次研討會(huì)將于9月24日~26日在深圳舉辦。本屆論壇將融合專題報(bào)告、技術(shù)交流、成果展示為一體,關(guān)注實(shí)際應(yīng)用中的關(guān)鍵技術(shù)和解決方案。

會(huì)議主題

集成電路測(cè)試技術(shù)

會(huì)議議題

1. 集成電路測(cè)試

2. 測(cè)試設(shè)備設(shè)計(jì)

3. 可測(cè)試性設(shè)計(jì)

4. ADC/DAC測(cè)試

5. 存儲(chǔ)器測(cè)試

6. SOC測(cè)試

會(huì)議日程
2022年9月24日 - 全天報(bào)到
2022年9月25日 - 專題報(bào)告 交流探討
2022年9月26日 - 上午 交流探討
聯(lián)系方式

地址:北京市東城區(qū)北河沿大街79號(hào)2層

郵編:100009

電話:18610950693

郵箱:cjsieditor@cis.org.cn

聯(lián)系人:殷佳麗

參會(huì)企業(yè)
承辦單位 - 中國(guó)儀器儀表學(xué)會(huì)電子測(cè)量與儀器分會(huì)
承辦單位 - 中國(guó)電子學(xué)會(huì)電子測(cè)量與儀器分會(huì)
承辦單位 - 電子科技大學(xué)(深圳)高等研究院
承辦單位 - 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所
承辦單位 - 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所(電子測(cè)試技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室)
承辦單位 - 深圳信息職業(yè)技術(shù)學(xué)院
承辦單位 - 深測(cè)芯檢測(cè)認(rèn)證有限公司
媒體支持 - 《儀器儀表學(xué)報(bào)》
媒體支持 - 《電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào)》
媒體支持 - INSTRUMENTATION
媒體支持 - 《電子測(cè)量技術(shù)》
媒體支持 - 《國(guó)外電子測(cè)量技術(shù)》
媒體支持 - 中國(guó)儀器與測(cè)量網(wǎng)
參會(huì)事項(xiàng)

9月24日 全天報(bào)到

9月25日 專題報(bào)告、交流探討

上午 主題報(bào)告 (主持人 王厚軍 )

09:00-09:20

開幕式(市/區(qū)領(lǐng)導(dǎo)致辭)

09:20-09:40

開幕式(研究院領(lǐng)導(dǎo)致辭)

09:40-10:10

我國(guó)集成電路測(cè)試儀器發(fā)展現(xiàn)狀及存在問題

中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所,年夫順,研究員(中國(guó)電科集團(tuán)首席科學(xué)家)

10:10-10:40

大規(guī)模復(fù)雜SOC智能測(cè)試技術(shù)

電子科技大學(xué)(深圳)高等研究院,

王厚軍,教授(原電子科大副校長(zhǎng))

10:40-11:00

茶歇

11:00-11:30

集成電路制程設(shè)備簡(jiǎn)介及發(fā)展現(xiàn)狀

清華大學(xué),王超,教授

11:30-12:00

3DIC測(cè)試挑戰(zhàn)及應(yīng)對(duì)

華為海思,黃俊林(DFT首席專家)

12:00-14:30

午餐

下午 主題報(bào)告 (主持人 王厚軍 )

14:30-15:00

AI-Assisted Yield Learning

華為海思半導(dǎo)體有限公司,黃宇,EDA首席科學(xué)家

15:00-15:30

數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的射頻電路校準(zhǔn)與測(cè)試技術(shù)

深圳大學(xué),全智,教授

15:30-16:00

系統(tǒng)視角看集成電路綜合測(cè)試儀發(fā)展趨勢(shì)

中國(guó)電子科技集團(tuán)第十四研究所,于文震,研究員(中國(guó)電科集團(tuán)首席專家)

16:00-16:30

茶歇

16:30-17:00

汽車芯片測(cè)試技術(shù)

中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院,陳大為,

教授(實(shí)驗(yàn)室主任)

17:00-17:30

基于XGBoost的模擬集成電路測(cè)試參數(shù)優(yōu)化方法

電子科技大學(xué)(深圳)高等研究院,肖寅東,副教授

18:00

晚餐

9月26日 上午(主持人 王厚軍 )

9:00-9:30

深圳集成電路測(cè)試專業(yè)人才現(xiàn)狀與對(duì)策

深圳信息職業(yè)技術(shù)學(xué)院,王新中,教授

9:30-10:00

深圳集成電路檢測(cè)認(rèn)證平臺(tái)建設(shè)規(guī)劃

深測(cè)芯聯(lián)合集成電路測(cè)試技術(shù)研究院,

戴志堅(jiān),教授

10:00-10:30

集成電路測(cè)試檢測(cè)和人才培養(yǎng)的產(chǎn)教融合新模式

中科天衡,李冉,

董事長(zhǎng)

10:30-12:00

集成電路測(cè)試設(shè)備設(shè)計(jì)技術(shù)交流研討

12:00-14:30

午餐

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